圖片來(lái)源：Stantchev et al

研究人員提出了一種透視硅片的方法，從而提供了一種探查電腦芯片以尋找微小制造缺陷的強(qiáng)大新工具。

為證實(shí)該方法的有效性，研究團(tuán)隊(duì)將輻射模式投射到115微米厚的硅片上。這會(huì)臨時(shí)性地使電子在這種通常作為半導(dǎo)體的材料內(nèi)部流動(dòng)。當(dāng)擁有導(dǎo)電性時(shí)，硅對(duì)于太赫茲輻射來(lái)說(shuō)是透明的。太赫茲指的是每秒上萬(wàn)億個(gè)周期的輻射。此類(lèi)輻射介于微波和紅外輻射之間，擁有150納米～1.5毫米的波長(zhǎng)。

隨后，研究人員測(cè)量了通過(guò)硅片反彈回來(lái)的輻射，以識(shí)別出現(xiàn)在硅片背面的物體或特征（圖片顯示的是一個(gè)2毫米×2毫米的部分電路）。利用此項(xiàng)技術(shù)，科學(xué)家能發(fā)現(xiàn)直徑小至8微米（或者說(shuō)，約是人類(lèi)最細(xì)頭發(fā)直徑的一半）的電路缺陷。他們?cè)谌涨俺霭娴摹犊茖W(xué)進(jìn)展》雜志網(wǎng)絡(luò)版上報(bào)告了這一成果。

從短期來(lái)看，此項(xiàng)技術(shù)最有可能的用途或許是在生產(chǎn)電腦芯片的工廠中用于質(zhì)量控制。不過(guò)，研究人員表示，從長(zhǎng)遠(yuǎn)來(lái)看，該技術(shù)或許可被用于仔細(xì)檢查生物組織的薄切片以發(fā)現(xiàn)疾病跡象。

    太赫茲成像不會(huì)在探測(cè)較厚的組織切片或?qū)ι眢w部位進(jìn)行成像方面派上用場(chǎng)。比如，一個(gè)原因在于所有活體組織的主要成分——水能強(qiáng)烈吸收這些波長(zhǎng)的輻射，并因此阻礙了此項(xiàng)技術(shù)在透視這些物體方面的能力。（徐徐）